FreeTrak Probe 系统参数: 简介 FreeTrak Probe无线光笔测量仪可便携至计量室、车间和各类具有挑战性的工业环境中使用,系统在运行中不易受到振动、位置变化等因素的影响,用户在测量过程中可随时移动光学跟... 详细信息 简介 FreeTrak Probe无线光笔测量仪可便携至计量室、车间和各类具有挑战性的工业环境中使用,系统在运行中不易受到振动、位置变化等因素的影响,用户在测量过程中可随时移动光学跟踪仪或光笔,获取稳定的高精度数据。该系统解决了传统坐标测量仪不便携的瓶颈,是提升整体测量效率的理想方案。 功能特性 1高精度:精度高达0.020mm,重复性高。15m³内体积精度高达0.1mm; 2动态参照:基于动态光学跟踪原理,系统可对光笔进行动态跟踪定位并实时精确获得光笔红宝石探针的三维坐标信息,从而实现了快速精确的接触式三维坐标测量; 3测量的自由度和灵活性:光笔与光学跟踪仪之间无需线缆连接,满足多样化现场环境使用需求; 4即时检测:使用光笔测量仪可获取实时的CAD检测报告; 5The Probe 无线光笔:多功能按钮设计,通过多功能按钮,光笔与软件实现无缝式交互,可持续性工作流程,更长的电池寿命助力持续性测量工作。 应用领域 | 检测:初样检测、产品质量检测、形变分析、定位和部件坐标对齐、大型工装检测; | 逆向工程:建模、维护,维修和翻新、模具设计、工装夹具设计; | 其他应用:动态追踪及定位、生产线装配调试。 技术参数